薄膜厚度測量儀-膜厚儀
產(chǎn)品概述
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,綜合 |
薄膜厚度測量儀-膜厚儀結(jié)合顯微鏡的薄膜測量系統(tǒng)
Filmetrics F40 SS-Microscope-VIS-1系統(tǒng) Filmetrics F40-UV SS-Microscope-UVX-1系統(tǒng)
Filmetrics薄膜厚度測量儀-膜厚儀的精密光譜測量系統(tǒng)讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù),通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析,幾秒鐘內(nèi)就可測量結(jié)果。
當(dāng)測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行,或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí),可以使用F40。使用先前足部校正顯微鏡的物鏡,再進(jìn)行測量,即可獲得精準(zhǔn)的厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件,F(xiàn)40就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭,可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測量位置。
相關(guān)應(yīng)用
半導(dǎo)體制造 生物醫(yī)學(xué)原件
• 光刻膠 • 聚合物/聚對二甲苯
• 氧化物/氮化物 • 生物膜/球囊壁厚度
• 硅或其他半導(dǎo)體膜層 • 植入藥物涂層
微電子 液晶顯示器
• 光刻膠 • 盒厚
• 硅膜 • 聚酰亞胺
• 氮化鋁/氧化鋅薄膜濾鏡 • 導(dǎo)電透明膜
- 上一個(gè): UT-1000AHerz主動(dòng)式減震系統(tǒng)
- 下一個(gè): R50電阻率測量儀